Nanoscale characterisation of ferroelectric materials - scanning probe microscopy approach
- Författare
- (M. Alexe, A. Gruverman, eds.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer-Verlag | cop. 2004 | Tyskland, New York | xiii, 282 sidor. ill. (vissa i färg) |